-
阻容感等元件AEC-Q200产品测试
(Storage)77 Note B1MIL-STD- 202 Method 1084Temperature Cycling77 Note B1JESD22 Method
-
半导体分立器件AEC-Q101认证试验
-
AEC-Q101认证试验
5High TemperatureReverse BiasHTRB773 Note BMIL-STD-750-1M1038 Method A5aAC blockingvoltageACBV773
-
光电器件AEC-Q102产品试验
BJESD22-A1058bIntermittent Operational LifeIOL263 Note BMIL-STD-750-1 Method 10379Low Temperature
-
新能源产品可靠性测试
/T21437.2 磁场发射 电磁兼容 MIL-STD-461F,GJB151,GJB152 电磁辐射抗扰度-ALSE方法、大电流注入法
-
PCB PCBA金相切片试验
-
功率器件参数测试
、短路特性及绝缘耐压测试;设备支持0-1500A,0-3000V的器件参数检测,覆盖MIL-STD-750,IEC 60747系列,GB/T29332等标准。服务介绍随着技术发展,第三代半导体功率器件
-
电子光老化试验
-
仪器仪表光老化试验
-
汽车内外饰件以及航天产品的元器件光老化试验
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net